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| 产品名称： | DP28967-2855 介电常数和介质损耗测试仪 |
| 产品型号： | DP28967-2855 |
| 品牌： | 59 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2024-09-12 |
DP28967-2855 介电常数和介质损耗测试仪的详细资料
介电常数和介质损耗测试仪 型号：DP28967-2855
介电常数和介质损耗测试仪用途
DP28967介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。DP28967介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
2 介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%
Q表
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型号 |
DP28967-2851 |
DP28967-2852D |
DP28967-2853D |
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工作频率范围 |
50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 |
1kHz～70MHz 四位数显，数字合成 精度：±50ppm |
50kHz～160MHz 四位数显，数字合成 精度：±50ppm |
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Q值测量范围 |
1～1000 指针，±1Q分辨率 |
1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 |
1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 |
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可调电容范围 |
40～500 pF ΔC±3pF |
40～500 pF ΔC±3pF |
13～230 pF |
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电容测量误差 |
±1%±1pF |
±1%±1pF |
±1%±0.5pF |
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Q表残余电感值 |
约20nH |
约20nH |
约8nH |
