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产品名称: | DP-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪 |
产品型号: | DP-Y2855 |
品牌: | 59 |
产品数量: | |
产品单价: | 面议 |
日期: | 2024-09-20 |
DP-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪的详细资料
介电常数和介质损耗测试仪 型号:DP-Y2855
介电常数和介质损耗测试仪DP-Y2855
介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
DP-Y2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz~100MHz,它能完成工作频率内材料的介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
2 介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标:
tanδ和ε性能:
固体绝缘材料测试频率100kHz~100MHz的tanδ和ε变化的测试。
tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±5%
型号 |
DP-Y2851 |
DP-Y2852D |
DP-Y2853D |
工作频率范围 |
50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器 |
1kHz~70MHz 四位数显,数字合成 精度:±50ppm |
50kHz~160MHz 四位数显,数字合成 精度:±50ppm |
Q值测量范围 |
1~1000 指针,±1Q分辨率 |
1~1000 四位数显,±0.1Q分辨率 |
1~1000 四位数显,±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 |
40~500 pF ΔC±3pF |
40~500 pF ΔC±3pF |
13~230 pF |
电容测量误差 |
±1%±1pF |
±1%±1pF |
±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 |
约20nH |
约20nH |
约8nH |
2.4 电感器:
按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。例如:在1MHz测试频率时,要配100μH或250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。
2.5 介质样品(选购件):
在现行介质材料检定系统中,检定部门为介质损耗测量仪提供的测量标准是标准介质样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准性。