夏比投影仪/投影仪 DP-50型的详细资料

1、CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的种用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的用光学仪器，CST-50型冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率。
2、对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45º角且试样缺口要求R0.25±0.25），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，别是R0.25mm缺口的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，对缺口的加工质量检验是个重要的质量控制手段。

、参数：

1、投影屏直径：180
2、工作台尺寸：方工作台：110×125
　　　　　　　 圆工作台：∮90
　　　　　　　 工作台玻璃直径：∮70
3、工作台行程：　 纵向：10mm　　横向:10mm　　 升降:12mm
　　　　　　　　　工作台转动范围：0～360º
4、仪器放大倍率：50×；物镜放大倍率：2.5×投影物镜放大倍率
　　　　　　　　 20×；光源（卤钨灯）；12V/100W
5、电源：220V/50Hz；重量:约18kg
6、外型尺寸：515×224×603mm（长×宽×）

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