北京亚欧德鹏专业少子寿命测试仪价格合理

　　北京亚欧德鹏专业少子寿命测试仪价格合理

　　北京亚欧德鹏科技有限公司销售的少子寿命测试仪(HS-CLT)，是一款功能强大的少子寿命测试仪，这里的少子,即少数载流子,是半导体物理的概念.它相对于多子而言。

　　多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子.出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴.而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用.这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。

　　测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。